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QEDにようこそ! |
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ＱＥＤテクノロジーズは1996年ニューヨーク・ロチェスターで創業しました。
当社は非球面レンズへの精密加工と高精度測定技術を開発し、光学ビジネスでのソルーションを提供します。 |
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| User Comunity |
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日本での連絡先
日本支社
〒541-0052
大阪市中央区安土町1-2-4
ミツルプラザ203
電話06-6268-0068 |
東京営業所
〒104-0031
東京都中央区京橋3-13-10
中島ゴールドビルディング9F
キャボット内
電話：03-5524-0551
営業コンタクトはこちらまで |
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WHAT'S NEW |
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| 磁気粘弾性流体研磨(MRF)とは？ |
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回転ホイールに研磨材が含まれる磁気粘弾性流体を
定量流すことにより、安定した研磨量を得ることができます。
MRFでは磁場やスラリー粘度・温度を一定に制御しており、自動的に作成されたNCプログラムによって、高精度な非球面形状と精密加工を達成することができます。
特 徴
・ＭＲＦによる安定した加工量
・自動制御による仕上がり形状と面精度を約束
・対話式による簡単操作
・小型レンズから大型フラット面、球面・非球面に対応 |
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| 用途・実績例 |
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回転ホイール径を20mmにすることにより、最小5mm径のレンズ研磨が可能となりました。（Q22-XE）
例）小径レンズ・結晶基板、プリズムなど
最大370mmホイールの仕様では、950mm×1250mmのフラット基板の加工が可能となります。（Q22-950F）
例）大型レンズ、ステッパー用部材、大型曲面など
またラスター機構の追加により、すべての光学部品の平面やフリーフォームの精密加工が、設計どおりに行うことが可能となりました。いままで不可能であった結晶基板の方異性も解消します。 |
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| サブアパチャー・スティッチング干渉計 (ＳＳＩ)とは？ |
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QEDの干渉計は光学部品の測定面を部分領域毎（サブアパチャー）に測定し、データーを繋ぎ合わせ、全体データーとして出力します。その結果、従来の干渉計をしのぐ高い精度と横分解能を得ることができます。
特 徴
・非球面レンズ測定が可能
・サブアパチャースティッチング干渉法で全面測定が可能
・簡単操作でマスター補正。高精度と解像度を維持します。
・測定スピードとデーター処理の高速化 |
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| 用途・実績例 |
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従来の干渉計の場合、レンズ口径や曲率半径によっては、全面測定が不可能でしたが、高精度なスティッチング機能により、直径200mmまでの光学部品なら平面から半球、非球面まで幅広く測定が可能になりました。
また同一領域を複数測定することにより、システム自体のエラー補正を自動に行い、従来の干渉計を上回る高精度測定が可能となりました。
例）非球面レンズ、球面レンズ、ステッパー用部材、フォトマスク基板など |
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