Top QED社の説明 光学部品の精密研磨 スティッチング干渉測定 ニュース コンタクト
  Technologies


サブアパチャー・スティッチング干渉測定機
SSIの原理
 従来技術では大口径や高NAレンズの全面にわたっての測定が困難でしたが、当社では市販のフィゾー型干渉計と測定台が6軸駆動するメカ構成(SSI-Aの場合)とデーター解析ソフトウエアにより、外形200mm、NA=1.0まで測定可能となりました。
 不可能を可能とした技術が、データーを繋ぎ合わせるステイッチング技術である。

大型球面 ドーム形状
R250mm-Φ200mm R4.5mm-Φ9mm NA=1.0

SSIの利点
 データーを繋ぎ合わせる(ステイッチング)と測定結果は劣化すると思われがちであるが、事実はまったくの逆で、搭載している干渉計よりはるかに向上する。部分測定(サブアパチャー)したデーターを整合性があるよう繋ぎ合わせ、最終的に数十分のλ以上の高精度が達成できました。
   特 徴
・測定レンジの拡大(横方向)により全面形状測定が可能(外形200mm、NA=1.0)
・ステイッチングにより市販の原器を上回る測定精度が可能
・非球面の測定にも対応
・自動補正での簡単操作
                     


*エッジ近傍まで詳細に表現可能となり、全面での信頼性が向上。
 
・VON

 変動可能なヌルをレンズと干渉計の間に設置することにより、散乱した反射波を受けることが可能となりました。またVON内のレンズを回転し傾けることにより、微細な収差作っていきます。

VONにより非球面レンズが測定可能となったVONで収差を作ります


 従来の干渉計や接触式では見えなかった、非球面上のツールマークによるエラーなどが発見されるようになりました。

ASIの特徴
 
 ワークと干渉計の間に特殊
なレンズを配置し、今まで不可能だった非球面量の大きい
パーツ測定が可能になりました。
これにより近似球面への変位量-1000λまでの非球面レンズの測定が可能。

ASI


SSI-Aの特徴
  SSI-A
  
 測定最大外形:200mm
*拡張キットにより280mmまで可能
変位量-200λまでと、NA=1.0まで
測定可能。
 形状:平面・球面・半球・非球面・
ドーム形状など  
  MFA-400の特徴
  
 MFA-400
 数ミクロンレベルの低~中空間周波数に対応した測定器で、非球面上のうねりが測定可能(0.2-3.0mm帯)。
*詳細はこちらまで。

半導体用レンズ製造メーカー様との共同開発により、最大400mmまでの球面・非球面レンズが測定可能。

Integrate: getting more from tools and people. Yours + Ours.
Home | Site Map 2008 QED Technologies. QED Technologies, MRF and SSI are Registered Trademarks of QED Technologies. All Rights Reserved.